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![](static/picture/075848_159235_wxgzh_23967.jpg)
v 主要性能特点
1、同时分析测量多种元素(从F到U的任意多种元素);
2、采用上照式设计,彻底避免污染,操作方便,无需维护;
3、对样品进行无损分析,分析方便快捷;
4、全自动机电一体化设计,操作界面简单;
5、单样品自动进样,自动检测,采用多层保护完全屏蔽X射线对人体的辐射;
6、良好的温度控制设备,仪器对外界的气温变化不敏感;
7、对样品形态要求少,固体、液体、粉末样品均可以直接检测,无需复杂的制样过程;
8、采用SDD探测器,分析速度快,精确度高,稳定性好,故障率低;
9、WINDOWS系统下的中文操作软件,方便国内用户使用。不同层次的操作员可随时调用相关帮助菜单来指导对仪器的操作。
v 仪器主要构成图
v 主要技术指标:
1. 探测器
Ø SDD硅漂移探测器(电制冷,只需要通电即可)
Ø 典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS).
Ø 输入计数率:1000KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)
Ø 峰背比:>25000
Ø 碳窗厚度:1um Dura 碳(一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率,独特的Dura技术
Ø 碳窗可以耐酸,碱的腐蚀)
Ø 处理器:数字电路,放大倍数,时间常数可任意设置。
Ø 高寿命,借助于其独特的Dura碳技术,探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏,晶体不会损伤,无需担心后期的维护费用
2.X射线管
Ø 高压:0-50Kv连续可调
Ø 电流:0-1000uA连续可调 (0-2500uA可选,大电流对Na-K有更好的激发效果)
Ø 功率:50W
Ø 稳定性:8小时0.2%
Ø 高寿命,正确操作的情况下寿命可以达到50000小时
2. 高压发生器
Ø 输入电压:24VDC
Ø 输入电流:4A
Ø 输出电压:50Kv,1mA(2.5mA可选,适配2500mA光管)
Ø **功率:50W
Ø 稳定性:8小时0.05%
3. 精密结构设计
Ø 垂直倒角设计,精密的控制保证优异的重复性,上照式设计可以完全避免灰尘的污染,使得仪器可以做到真正的免维护
4. 冷却散热系统
Ø 良好的多级温控自反馈电路,室温在5-25℃,仪器结果不会有影响。
5. 自动进样系统
Ø 单样品自动进样
6. 光谱分析系统控制和数据处理系统
Ø 12位模/数转换器
Ø 19英寸显示器
Ø 500G以上硬盘驱动
Ø 多功能标准键盘
Ø 打印机
7. 分析软件
Ø 元素测量范围:F-U
Ø 可以测量镀层厚度
Ø 标准曲线法,理论系数法,基本参数法,多元比例法 使您轻松应对各种样品的分析
Ø 开放式软件设计,您可以自己开发新的工作曲线
Ø 内置式参数设计,您在自己制作工作曲线时,各种干扰自动扣除。
8. 尺寸规格
Ø 长544mm宽572mm(含推手)高1152mm
Ø 重量约110kg
9. 电源要求
Ø 220V±10% 50Hz
10. 工作环境
Ø 温度范围:5—30℃。
Ø 相对湿度小于等于80%
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